| 摘要 |
1. Способ для проверки изделия, способ содержит этапы, на которых ! сканируют изделие для создания первой сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры ! последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением, ! собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и ! определяют сигнатуру изделия из набора элементов данных, ! сохраняют первую сигнатуру в базе данных сигнатур, ! сканируют изделие для создания второй сигнатуры изделия, причем для создания сигнатуры, ! последовательно освещают совокупность участков изделия когерентным оптическим излучением, ! собирают набор, содержащий группы элементов данных, которые выражают рассеяние когерентного излучения от поверхности изделия, причем каждая группа содержит элементы данных, связанные с рассеянием от соответствующего одного из совокупности участков, и ! определяют сигнатуру изделия из набора данных, и ! сравнивают первую и вторую сигнатуры для определения, являются ли изделия, из которых получены первая и вторая сигнатуры, одним и тем же изделием, ! в котором одна из первой и второй сигнатур является набором сигнатур, содержащим совокупность сигнатур, полученных из соответствующих разных участков изделия. ! 2. Способ по п.1, в котором совокупность сигнатур создают с использованием совокупности блоков сканирования. ! 3. Способ по п.1, в котором совокупность сигнатур создают с использованием блока сканирования в совокупности поз |
