获取单粒子现象截面与重离子线性能量转移关系的方法

摘要

本发明公开了一种获取单粒子现象截面与重离子线性能量转移关系的方法，包括：将被测器件放置在试验位置，选择能量、注量率、注量、均匀性合适的离子，开启离子束的挡板，对所述被测器件进行重离子辐射，直到预期的单粒子现象发生或达到最大的预定注量；记录所述被测器件发生单粒子现象SEP的次数，并记录所述离子的注量以及发生单粒子现象截面，关闭离子束；重新选择离子种类，重复步骤上述步骤；至少选择5种以上LET值进行试验，以所述发生单粒子现象截面为纵坐标，以LET值为横坐标，得到发生单粒子现象截面与LET的关系。本发明能够有效的对航天用的器件抗单粒子现象的能力进行检验，从而指导研制单位提高器件的抗辐射能力，提高器件的可靠性。

主权项

1、一种获取单粒子现象截面与重离子线性能量转移关系的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)将被测器件放置在试验位置，并与测试设备连接好，启动所述被测器件工作，验证所述被测器件工作正常；(2)选择离子种类，并测量所述离子束的线性能量转移LET值，调节离子束截面，使所述离子束截面大小为所述被测器件的面积大小，并测量所述整个离子束截面的均匀性以及离子束注量率；所述测量所述整个离子束截面的均匀性具体如下：采用多个闪烁探测器对所述离子束的整体剖面进行采集；(3)开启离子束的挡板，对所述被测器件进行重离子辐射，统计发生的单粒子现象直到达到最大的预定注量或达到预计的单粒子现象数；(4)关闭离子束，获取发生单粒子现象截面；(5)重新选择新的离子种类或改变所述离子的能量、入射角度以得到新的LET值，重复步骤(2)到(4)；(6)至少选择5种以上LET值进行试验，以所述发生单粒子现象截面为纵坐标，以LET值为横坐标，得到发生单粒子现象截面与LET的关系。