记忆体干扰测试的系统与方法

摘要

一种记忆体干扰测试的系统与方法，记忆体干扰测试的系统至少包含一记忆体、一递移单元、一写入单元、一读出单元、及一判别单元。主要藉由递移单元，将待测试的每一个记忆区块的指向，依序递移至下一个记忆区块，针对每一个记忆区块来回写入、判读储存内容，以判别出具有写入干扰情形的不良记忆体。