发明名称 Selbstjustierte Kontaktstruktur in einem Halbleiterbauelement
摘要 Durch Herstellen einer Isolationsstruktur, die sich über das Höhenniveau hinauserstreckt, das durch das Halbleitermaterial eines aktiven Gebiets definiert ist, können entsprechende Vertiefungen in Verbindung mit der Gateelektrodenstruktur nach der Herstellung der grundlegenden Transistorstrukturen gebildet werden. Diese Vertiefungen können nachfolgend mit einem geeigneten Kontaktmaterial gefüllt werden, wodurch großflächige Kontakte in einer selbstjustierenden Weise gebildet werden, ohne dass eine Abscheidung und Strukturierung eines dielektrischen Zwischenschichtmaterials erforderlich ist. Anschließend wird die erste Metallisierungsschicht beispielsweise auf der Grundlage gut etablierter Techniken hergestellt, wobei die Metallleitungen direkt mit den jeweiligen "großflächigen" Kontaktelementen verbunden sind.
申请公布号 DE102008006960(A1) 申请公布日期 2009.08.06
申请号 DE200810006960 申请日期 2008.01.31
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LLC & CO. KG 发明人 WERNER, THOMAS;FEUSTEL, FRANK;FROHBERG, KAI
分类号 H01L21/283;H01L23/50 主分类号 H01L21/283
代理机构 代理人
主权项
地址