发明名称 一种改进型折叠结构ADC
摘要 本发明公开了一种改进型折叠结构ADC,包括粗量化器、细量化器,还包括细量化区间选择器和纠错模块;其中,输入模拟信号分别输入至粗量化器和细量化器,经粗量化器得到的N1位输出MSB[N1-1:0]连接至纠错模块的一输入端,同时经细量化区间选择器得到区间值输入到细量化器中,所述细量化器的N2+2位输出LSB[N2+1:0]作为纠错模块的另一输入端,纠错模块的输出为该ADC的数字输出信号。本发明所述改进型折叠结构ADC节省了芯片的面积,且在细量化器精度允许的情况下,能够在一定程度上纠正粗量化器的精度导致在折叠点处的误差,具有较好的容错性。
申请公布号 CN101499802A 申请公布日期 2009.08.05
申请号 CN200810065349.8 申请日期 2008.02.03
申请人 深圳艾科创新微电子有限公司 发明人 王韧;刘敬波;胡江鸣;常军锋;石岭
分类号 H03M1/10(2006.01)I;H03M1/34(2006.01)I 主分类号 H03M1/10(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1、一种改进型折叠结构ADC,包括粗量化器(201)、细量化器(203),其特征在于,该ADC还包括细量化区间选择器(202)和纠错模块(204);其中,输入的模拟信号分别输入至粗量化器(201)和细量化器(203),经粗量化器(201)得到的N1位输出MSB[N1-1:0]连接到纠错模块(204)的一输入端,同时经细量化区间选择器(202)得到区间值输入至细量化器(203),所述细量化器(203)的N2+2位输出LSB[N2+1:0]作为纠错模块(204)的另一输入端,纠错模块(204)的输出为该ADC的数字输出信号,其中,N1为所述粗量化器(201)的量化位数;N2为所述细量化器(203)的量化位数。
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