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发明名称 Testsystem für Hochfrequenz-IC-Vorrichtungen und Verfahren zum Herstellen von Hochfrequenz-IC-Vorrichtungen unter Verwendung desselben
摘要
申请公布号 DE112007001912(T5) 申请公布日期 2009.07.30
申请号 DE200711001912T 申请日期 2007.08.17
申请人 MURATA MFG. CO. LTD. 发明人 DOKAI, YUYA;KATO, NOBORU
分类号 G06K17/00;G01R31/28 主分类号 G06K17/00
代理机构 代理人
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