用于测量测量物体的厚度和电导率的方法及装置

摘要

本发明涉及一种通过利用电磁感应用于被测量的导电目标物体的尺寸和/或电特性的非接触测量的方法，并且在该方法中使电磁场穿过被测量物体。通过下面的方法步骤实现本发明：在被测量物体的一侧上设置发射线圈，在被测量物体的另一侧上设置接收线圈，在发射线圈中产生磁场，产生从一个电平至另一个电平在发射线圈中产生的磁场的突然变化，检测在接收线圈中感应的电压，确定从发射线圈中磁场的改变的时间T2直至当在接收线圈中开始感应电压时的时间Ta经过的时期，-确定感应的电压振幅，进而计算被测量物体的厚度和/或电导率。

主权项

1、一种用于通过利用电磁感应进行非接触地测量以获得被测量的导电物体的厚度和/或电导率的方法，并且在所述方法中使电磁场穿过被测量物体，特征在于：-在被测量物体的一侧上设置发射线圈，-在被测量物体的相对另一侧上设置接收线圈，-在发射线圈中产生磁场，-突然改变在发射线圈中产生的磁场，-检测在接收线圈中感应的电压S1，-确定从发射线圈中磁场的改变的时间t0直至当在接收线圈中开始感应电压时的时间t1经过的时间段Ta，-确定在接收线圈中感应的幅度最大电压S1max，以及-基于所确定的Ta和S1max值，计算被测量物体的厚度和/或电导率。