发明名称 PROBADOR Y METODO PARA DISPOSITIVO DE RFID.
摘要 Método para probar un dispositivo (12) de identificación por radiofrecuencia (RFID), que comprende: acoplar de manera capacitiva un probador (10) de dispositivo de RFID a una antena (30) del dispositivo (12) de RFID; generar una señal saliente desde el probador (10) de dispositivo de RFID; usar la señal saliente para alimentar el dispositivo (12) de RFID; generar una señal de retorno en el dispositivo (12) de RFID; detectar una señal de retorno, a través de un lector que forma parte del probador (10); y en el que la generación de la señal saliente incluye generar la señal saliente a una frecuencia de señal que es diferente de una frecuencia resonante natural de la antena (30); caracterizado porque antes de generar la señal saliente se desplaza una frecuencia de funcionamiento óptima de la antena desde la frecuencia resonante natural de la antena hasta una frecuencia resonante desplazada; en el que el desplazamiento de la frecuencia de funcionamiento óptima incluye poner al menos uno de un elemento (60) dieléctrico y un elemento (62) eléctricamente conductor del probador muy próximo a los elementos (36, 38) de antena de la antena (30).
申请公布号 ES2323782(T3) 申请公布日期 2009.07.24
申请号 ES20040711135T 申请日期 2004.02.13
申请人 AVERY DENNISON CORPORATION 发明人 FORSTER, IAN J.;WEAKLEY, THOMAS, CRAIG;KINGSTON, BENJAMIN
分类号 G08B21/00;G06K7/00;G06K7/10;G08B13/14 主分类号 G08B21/00
代理机构 代理人
主权项
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