发明名称 光阻双重图形化
摘要 提供一种将形成于基板上之蚀刻层加以蚀刻的方法。将具有第一遮罩特征部之第一光阻(PR)遮罩设置于蚀刻层上。藉由包含至少一循环之制程将保护涂层设置于第一PR遮罩上。每一循环包含(a)沉积阶段:利用沉积气体,将沉积层沉积于第一遮罩特征部之表面上;(b)轮廓成形阶段:利用轮廓成形气体,将沉积层之轮廓加以塑形。将液态PR材料涂布于具有保护涂层之第一PR遮罩上。将PR材料图案化成第二遮罩特征部,其中第一及第二遮罩特征部形成第二PR遮罩。透过此第二PR遮罩而蚀刻此蚀刻层。
申请公布号 TW200931513 申请公布日期 2009.07.16
申请号 TW097149703 申请日期 2008.12.19
申请人 兰姆研究公司 发明人 罗马诺 安德鲁R;沙价迪S M 瑞加
分类号 H01L21/306(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/306(2006.01)
代理机构 代理人 许峻荣
主权项
地址 美国