薄膜和使用该薄膜的磁记录介质

摘要

本发明提供一种薄膜，其特征在于，在180℃、无张力下进行热处理30分钟时的宽度方向的热收缩率为1.0～2.5％，在将长度方向和宽度方向的热膨胀系数分别记作αMD(×10^-6℃)、αTD(×10^-6/℃)、长度方向和宽度方向的湿度膨胀系数分别记作βMD(×10^-6/％RH)、βTD(×10^-6/％RH)时，同时满足下式(1)～(4)，还提供一种使用了该薄膜的磁记录介质。本发明的薄膜，通过将由温度、湿度导致的尺寸变化规定在特定的范围内，可以使形成磁记录介质时的尺寸变化，以及长度方向与宽度方向的尺寸变化的差变得极小。-10≤αMD≤10 (1);αMD-10≤αTD≤αMD-3 (2);-10≤βMD≤10 (3)。βMD-10≤βTD≤βMD-3 (4)

主权项

1. 一种薄膜，其特征在于，是将制膜原液挤出到支持体上，做成薄膜，使溶剂从该薄膜挥发，得到聚合物薄片后，将其从支持体上剥离，将该从支持体剥离后的聚合物薄片，冷却至30～60℃后，沿长度方向拉伸1.1～2.0倍，之后引入到湿法工序中，进行脱溶剂得到的薄膜，在180℃、无张力下进行热处理30分钟时的宽度方向的热收缩率为1.0～2.5％，在将长度方向和宽度方向的热膨胀系数分别记作αMD(×10-6/℃)、αTD(×10-6/℃)、长度方向和宽度方向的湿度膨胀系数分别记作βMD(×10-6/％RH)、βTD(×10-6/％RH)时，同时满足下式(1)～(4)，-10≤αMD≤10 (1)αMD-10≤αTD≤αMD-3 (2)-10≤βMD≤10 (3)βMD-10≤βTD≤βMD-3 (4)。