发明名称 基板检查装置
摘要 基板检查装置(10)系包含本体基座(12)、在本体基座(12)上可朝Y方向移动之台架(gantry)(20)、在台架(20)之上面可朝X方向移动之探针基座(24)、非接触型感测器探针(26)、探针元件组合(30)、用以对包含在探针元件组合(30)之探针配件进行更换之更换用托盘(60)、及用以对探针配件的高度、位置进行校准之高度基准部(70)等。此外,具备致动器驱动部(110)、基板评估部(112)、控制部(120),而控制部(120)包含基板检查模组(122),以及对探针元件组合(30)进行校准定位等,且必要时进行用以自动地更换探针的处理之维修模组(124)。
申请公布号 TW200928374 申请公布日期 2009.07.01
申请号 TW097142999 申请日期 2008.11.07
申请人 东京阴极研究所股份有限公司 发明人 清田典靖;塚本守;菅保雄
分类号 G01R1/067(2006.01);G01R31/28(2006.01);G12B21/20(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本