记忆体装置之测试设备

摘要

一种记忆体装置之测试设备及其测试方法，在不使用昂贵的设备下，藉由增加一简单的电路来测试记忆体主要部分之延迟的方法，使记忆体开发的时间区间缩短，并使记忆体开发成本降低。记忆体装置之测试设备包含一记忆体阵列、一冗余记忆体、一可程式化冗余解码器，可程式化冗余解码器决定一对应于一选择讯号之驱动力，并输出经决定的驱动力至冗余记忆体的字元线、以及一延迟差产生单元，延迟差产生单元产生一延迟差讯号，此延迟差讯号对应于自冗余记忆体所输出之第一及第二字元线讯号之间的延迟差。