发明名称 | 非正常盘片检测方法 | ||
摘要 | 一种非正常盘片检测方法,首先单行程移动物镜(lens)使投射光束穿越盘片数据层,检测及记录RF讯号的行程,检查到达单行程的终点,假如未到达单行程的终点,则回至继续移动物镜,假如到达单行程的终点,则计算出检测到RF讯号存在的偏摆行程长度,再比较偏摆行程长度大于行程阈值,假如偏摆行程长度不大于行程阈值则判断为正常盘片,假如偏摆行程大于行程阈值,则判断为非正常盘片,以快速检测非正常盘片。 | ||
申请公布号 | CN101471095A | 申请公布日期 | 2009.07.01 |
申请号 | CN200710305423.4 | 申请日期 | 2007.12.28 |
申请人 | 广明光电股份有限公司 | 发明人 | 徐嘉星;萧亦隆 |
分类号 | G11B7/095(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/095(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
主权项 | 1. 一种非正常盘片检测方法,其步骤包含:(1)单行程移动物镜使投射光束穿越盘片数据层;(2)记录检测到RF讯号的行程;(3)计算出检测到RF讯号存在的偏摆行程长度;以及(4)比较偏摆行程长度是否大于行程阈值 假如偏摆行程长度不大于行程阈值则判断为正常盘片,假如偏摆行程大于行程阈值,则判断为非正常盘片。 | ||
地址 | 中国台湾桃园县 |