测试模拟电路

摘要

本发明提供一种用于测试一器件之装置，其包括一通信通道，该通信通道具有与其相关联之一组可程式化参数。该等可程式化参数在该通信通道上产生一偏压条件。一偏压控制电路用于影响得自该等可程式化参数之该偏压条件，以便模拟一所需偏压条件。