发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Temperaturmessung an zu beschichtenden Substraten |
摘要 |
Bei einem Verfahren zur Temperaturmessung an einem zu beschichtenden Substat, bei dem die Temperatur des Substrats während der Beschichtung durch einen Temperatursensor ermittelt und der so ermittelte Temperaturwert an eine Messeinrichtung weitergeleitet wird, wird vorgeschlagen, dass der Temperatursensor an einer der zu beschichtenden Oberfläche abgewandten Seite des Substrats so angeordnet wird, dass eine Beschichtung des Temperatursensors ausgeschlossen ist.
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申请公布号 |
DE102007061777(A1) |
申请公布日期 |
2009.06.25 |
申请号 |
DE200710061777 |
申请日期 |
2007.12.19 |
申请人 |
VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH |
发明人 |
HEISIG, ANDREAS;MEYER, THOMAS |
分类号 |
C23C14/54;B05C11/00;G01K1/14;G01K13/00 |
主分类号 |
C23C14/54 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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