发明名称 基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪
摘要 本发明涉及一种基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪。它包括单模输入光纤、第一同轴光纤、单模光纤、第二同轴光纤和单模输出光纤依次连接而构成,单模输入光纤和单模光纤分别与第一同轴光纤两端熔接构成光分束器,单模光纤和单模输出光纤分别与第二同轴光纤两段熔接构成光合波器,在单根光纤中实现马赫曾德干涉仪。本发明的基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪,具有制造方法简单,使用方便、干涉传输特性易于控制、温度稳定性好,结构紧凑,易于与现有的光纤系统集成等优点,可应用于光纤通信器件和光纤传感器等领域的光纤光谱滤波器、光纤压力、折射率、温度传感器等等。
申请公布号 CN101464539A 申请公布日期 2009.06.24
申请号 CN200910044806.X 申请日期 2009.01.04
申请人 上海大学 发明人 庞拂飞;王廷云;刘奂奂;陈娜;徐平;闫吉文;向文超;陈振宜
分类号 G02B6/26(2006.01)I;G02B6/036(2006.01)I 主分类号 G02B6/26(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 代理人 何文欣
主权项 1. 一种基于同轴光纤的马赫曾德干涉仪,包括单模输入光纤(1)、第一同轴光纤(2)、单模光纤(3)、第二同轴光纤(4)和单模输出光纤(5)依次连接,其特征在于所述单模输入光纤(1)和所述单模光纤(3)分别于所述第一同轴光纤(2)两端通过光纤熔接机熔接而构成纤芯模和环形波导包层模耦合光分束器;所述单模光纤(3)和所述单模输出光纤(5)分别与所述第二同轴光纤(4)两端通过光纤熔接机熔接而构成纤芯模和包层模耦合光合波器。
地址 200444上海市宝山区上大路99号