| 发明名称 | 一种USBKEY跨区测试方法 | ||
| 摘要 | 一种USBKEY跨区测试方法。本方法利用一个可变的2进制文件，通过改变2进制文件的大小来影响它后面的原有数据结构在EEProm中的位置从而达到测试分区EEProm的目的。本发明的目的在于：充分利用测试程序继承性，不破坏原有测试方案，大量节省测试程序开发周期。 | ||
| 申请公布号 | CN101464830A | 申请公布日期 | 2009.06.24 |
| 申请号 | CN200710303736.6 | 申请日期 | 2007.12.21 |
| 申请人 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 发明人 | 杨晓阳 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1：一种USBKEY跨区测试方法，其特征在于：通过更改原有数据结构在EEProm中的位置使原有测试程序不需要经过更改就能达到测试分区EEProm的目的。 | ||
| 地址 | 100015北京市朝阳区高家园1号 | ||