发明名称 发光二极管寿命试验装置及方法
摘要 一种寿命试验装置,包括炉体、电流源、电压计、控制模块、及处理模块。炉体内供放置发光二极管。其中,炉体在第一期间内逐渐地改变炉温,在第二期间内维持炉温在设定炉温。电流源提供发光二极管第一电流和第二电流。电压计用来测量发光二极管的正向电压。控制模块控制电流源输出第一电流或第二电流给发光二极管,且控制电压计测量发光二极管该正向电压。处理模块根据发光二极管的正向电压、发光二极管的正向电压与该炉温的一变动关系式以计算发光二极管的结温度。
申请公布号 CN101452044A 申请公布日期 2009.06.10
申请号 CN200710196274.2 申请日期 2007.12.07
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 陈秋伶;黄胜邦;黄斐章
分类号 G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 王志森
主权项 1. 一种发光二极管寿命试验装置,包括:一炉体,具有一炉温,该炉体内供放置一发光二极管,其中,该炉体在一第一期间内逐渐地改变该炉温,在一第二期间内维持该炉温在一设定炉温;一电流源,用以提供一第一电流和一第二电流给该发光二极管;一电压计,用以测量该发光二极管的正向电压;一控制模块,用以控制该电流源输出该第一电流或该第二电流给该发光二极管,且控制该电压计测量该发光二极管该正向电压,以及一处理模块,根据该发光二极管的正向电压、该发光二极管的正向电压与该炉温的一变动关系式以计算该发光二极管的结温度。
地址 中国台湾新竹县