发明名称 | 成像装置 | ||
摘要 | 一种成像装置,具有使像载体起电的起电部,将起电的像载体曝光并形成静电潜像的曝光部,通过施加显影偏压、利用显影剂使静电潜像显影的显影部,通过施加定电压控制的转印偏压而将像载体上的显影剂像转印到其他部件的转印部,及通过起电部起电且通过曝光部无法曝光的像载体的区域中、通过显影部供应显影剂而在像载体上形成图像控制用的测试图、检测通过转印机构转印到其他部件上的测试图的测试图检测部;其中,对应测试图形成时像载体的表面电位,设定测试图转印到其他部件时的转印偏压值。 | ||
申请公布号 | CN100498580C | 申请公布日期 | 2009.06.10 |
申请号 | CN03134736.3 | 申请日期 | 2003.09.29 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 望月淳;富泽岳志;斋藤诚 |
分类号 | G03G15/16(2006.01)I | 主分类号 | G03G15/16(2006.01)I |
代理机构 | 北京怡丰知识产权代理有限公司 | 代理人 | 于振强 |
主权项 | 1. 一种成像装置,具有以下机构:使像载体起电的起电机构;将起电的上述像载体曝光,形成静电潜像的曝光机构;通过施加显影偏压、利用显影剂使上述静电潜像显影的显影机构;通过施加定电压控制的转印偏压,将像载体上的显影剂像转印到其他部件上的转印机构;在通过上述起电机构起电、且通过上述曝光机构无法曝光的上述像载体的区域,由上述显影机构供应显影剂,在上述像载体上形成图像控制用的测试图的测试图形成机构;检测通过上述转印机构转印到上述其他部件的上述测试图的测试图检测机构;根据形成上述测试图时的上述像载体的表面电位,设定上述测试图转印到上述其他部件时的转印偏压值的控制机构。 | ||
地址 | 日本东京都 |