| 发明名称 | 检查用探测器及检查装置、检查用探测器的制造方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种检查用探测器，可以缩小探测器侧端子间距，对检查对象机器进行良好地检查。检查用探测器(1)包括：硅基板(2)；设在硅基板(2)上的由树脂构成的突起部(3)；设在突起部(3)上、与液晶面板显示器(100)的端子(206、306)接触的第1导电部(4)；和，设在硅基板(2)中设置了突起部(3)的区域以外的区域中、与第1导电部(4)电连接的第2导电部(5)。 | ||
| 申请公布号 | CN100495126C | 申请公布日期 | 2009.06.03 |
| 申请号 | CN200510091655.5 | 申请日期 | 2005.08.11 |
| 申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 伊东春树;水野伸二;山口浩司 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1345(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 李香兰 |
| 主权项 | 1. 一种检查用探测器，具有与检查对象机器的端子电连接的导电部，其特征在于，具备：硅基板；突起部，由设在所述硅基板上的树脂构成；第1导电部，设在所述突起部上，并与所述端子接触；以及，第2导电部，设在所述硅基板中设置了所述突起部的区域以外的区域，并与所述第1导电部电连接，所述第1导电部，包含对应所述端子在第1方向上并列设置的多个第1布线图形，所述第2导电部，包含对应所述第1布线图形设置的多个第2布线图形，所述突起部的表面，朝着与所述硅基板相反一侧隆起，截面看是圆弧的形状。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||