用于测试包括复数个积体电路装置之积体电路模组的系统与方法

摘要

本发明揭示一种用于测试包括复数个积体电路装置之一积体电路模组的系统与方法，例如包括多个记忆体装置之一记忆体模组。该方法之具体实施例可用于测试该积体电路模组之一积体电路装置，该积体电路装置提供与藉由同一积体电路装置提供的至少一资料信号相关之一资料选通信号。可以在识别针对每一积体电路装置的资料有效视窗后，作出一关于针对该积体电路模组之一测试结局的决定，而不必像知测试器可能实行的操作一样识别藉由所识别的资料有效视窗之一交叉点定义之一共同取样视窗并验证此类共同取样视窗达到规格要求。