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发明名称 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号 KR20090047952(A) 申请公布日期 2009.05.13
申请号 KR20070114093 申请日期 2007.11.09
申请人 DONGBU HITEK CO., LTD. 发明人 CHOI, KYUNG DUK
分类号 H01J37/26;H01J37/20 主分类号 H01J37/26
代理机构 代理人
主权项
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