发明名称 |
Method of Controlling a Fabrication Process Using an Iso-Dense Bias |
摘要 |
Embodiments of controlling a fabrication process using an iso-dense bias are generally described herein. Other embodiments may be described and claimed.
|
申请公布号 |
US2009118857(A1) |
申请公布日期 |
2009.05.07 |
申请号 |
US20070936769 |
申请日期 |
2007.11.07 |
申请人 |
TOKYO ELECTRON LIMITED |
发明人 |
BISCHOFF JOERG;WEICHERT HEIKO |
分类号 |
G06F19/00 |
主分类号 |
G06F19/00 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|