发明名称 | 基于IC-封装-PCB协同设计的PI解决方法 | ||
摘要 | 本发明涉及超大规模集成电路技术领域,特别是解决后端设计中电源完整性问题的IC-封装-PCB协同设计的电源完整性问题的解决方法。方法包括:1)建立基于分析同步开关输出噪声的电路模型;2)分析并提取电路模型所对应的寄生参数,根据PCB应用环境确定输出负载;3)确定PI设计中的设计指标;4)根据IO特性,确定IO的选择,对IO工作时自身所需提供的电源地工作电流进行分析,得到IO的性能指标;对逻辑核的工作电流进行分析;根据功能仿真确定芯片的输出翻转率;5)考虑电源完整性的前提下,根据PI设计指标和仿真结果,快速确定合适的电源地IO数目。 | ||
申请公布号 | CN100485695C | 申请公布日期 | 2009.05.06 |
申请号 | CN200610078217.X | 申请日期 | 2006.05.12 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 刘海南;周玉梅;吴斌;蒋见花;霍津哲 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 段成云 |
主权项 | 1、一种适用于超大规模集成电路VLSI后端物理设计的基于集成电路IC-封装-印刷电路板PCB协同设计的解决超大规模集成电路中的电源完整性问题的方法,其特征在于,该方法包括:1)建立基于分析同步开关输出噪声的电路模型;2)分析并提取电路模型所对应的寄生参数,根据PCB应用环境确定输出负载;3)确定电源完整性PI设计中的设计指标;4)根据输入输出单元IO特性,确定IO的选择,对IO工作时自身所需提供的电源地工作电流进行分析,得到IO的性能指标;对逻辑核的工作电流进行分析;根据功能仿真确定芯片的输出翻转率;5)考虑电源完整性的前提下,根据PI设计指标和仿真结果,快速确定合适的电源地IO数目;其中,仿真结果是IO的电源地工作电流、逻辑核的工作电流和芯片的输出翻转率。 | ||
地址 | 100029北京市朝阳区北土城西路3号 |