发明名称 非挥发性记忆体元件及其制造方法
摘要 本发明提出一种非挥发性记忆体元件的制造方法。首先于基底上形成第一介电层,并于其上形成电荷储存层。然后于电荷储存层上形成具有第一开口之图案化光阻层。继之,对图案化光阻层进行一个热制程,以缩小第一开口的宽度。随后,以进行热制程后的图案化光阻层为罩幕,于电荷储存层中形成第二开口。再者,移除图案化光阻层。接着,依序形成第二介电层及导体层。继之,依序移除部份导体层、部分第二介电层、部分电荷储存层及部分第一介电层,以形成堆叠结构。
申请公布号 TW200919646 申请公布日期 2009.05.01
申请号 TW096141068 申请日期 2007.10.31
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 许延有;林世昌;潘建尉;何明佑
分类号 H01L21/8247(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 代理人 王宗梅
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼