发明名称 DISPOSITIVO DE POSICIONAMMIENTO PARA ELEMENTO DE PRUEBA.
摘要 Dispositivo de posicionamiento para un elemento de prueba (1), que comprende - una superficie de apoyo (2) para el elemento de prueba (1), - un primer componente de conmutación (3) que se asienta sobre la superficie de apoyo (2) al lado del elemento de prueba (1), o bien sobre una superficie de referencia del elemento de prueba (1) dispuesto sobre la superficie de apoyo (2), y que sirve como referencia, y - un segundo componente de conmutación (4) que se asienta sobre el elemento de prueba (1) cuya superficie está configurada con especificidad posicional, que está dispuesto paralelamente al primer componente de conmutación (3), y que puede ser desviado perpendicularmente a la superficie de apoyo (2) en función de la configuración superficial del elemento de prueba (1), en el que la posición de conmutación de un interruptor destinado a señalizar un posicionamiento del elemento de prueba (1) depende de la desviación del segundo componente de conmutación (4) con respecto al primer componente de conmutación (3), sirviendo un plano sobre el que se apoya el primer componente de conmutación (3) como plano de referencia, con respecto al que se realiza la conmutación.
申请公布号 ES2318222(T3) 申请公布日期 2009.05.01
申请号 ES20040019390T 申请日期 2004.08.16
申请人 F. HOFFMANN-LA ROCHE AG 发明人 HUBNER, UTE;STENKAMP, BERND;SCHABBACH, MICHAEL;KERN, BERNHARD
分类号 G01N33/66;G01N35/00;G01N33/487;G01N35/04;G01N35/10 主分类号 G01N33/66
代理机构 代理人
主权项
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