发明名称 两步制备NiO透明导电薄膜的方法
摘要 两步制备NiO透明导电薄膜的方法属于半导体光电子材料制造技术领域。现有方法所采用的NiO陶瓷靶制备工艺较复杂、价格昂贵,易破损。由于在制备NiO陶瓷靶的过程中,Ni和O原子比例已固定,限制了制备的NiO透明导电薄膜中Ni和O原子比例调整范围,不能满足不同的应用需求。由于低温生长的特点导致薄膜中的缺陷较多,从而造成薄膜中载流子迁移率降低,大大降低了NiO透明导电薄膜的导电率和光学透过率。本发明第一步通过溅射Ni靶制备Ni膜;第二步将得到的Ni膜置于500~1200℃范围内的某一温度下的氧化气氛中,氧气流量为5~15l/min,热氧化时间为30~180分钟,将Ni膜氧化而形成NiO透明导电薄膜。
申请公布号 CN101413102A 申请公布日期 2009.04.22
申请号 CN200810051538.X 申请日期 2008.12.05
申请人 长春理工大学 发明人 王新;李野;王国政;姜德龙;付申成;端木庆铎;吴奎
分类号 C23C14/34(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I;C23C14/14(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I 主分类号 C23C14/34(2006.01)I
代理机构 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人 曲 博
主权项 1、一种两步制备NiO透明导电薄膜的方法,以磁控溅射的方式,通过溅射气体将溅射靶物质溅射到衬底上形成薄膜,其特征在于,第一步通过溅射Ni靶制备Ni膜;第二步将得到的Ni膜置于500~1200℃范围内的某一温度下的氧化气氛中,氧气流量为5~15l/min,热氧化时间为30~180分钟,将Ni膜氧化而形成NiO透明导电薄膜。
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