| 发明名称 | 用于估算采样频偏的方法和装置,及其采样定时恢复回路 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于估算采样频偏的方法和装置，及其采样定时恢复回路。一种用于估算采样频偏的装置，包括波形特征提取单元、变化量计算单元和SFO(采样频偏)估算器。波形特征提取单元提取在采样数据信号的一个帧周期中的训练序列周期的波形特征，并输出相应于该训练序列周期的波形特征的波形特征值。变化量计算单元基于第m帧的波形特征值和第(m-k)帧的波形特征值计算波形特征变化量，其表示在第m帧和第(m-k)帧之间波形特征的变化量，其中m和k是相互独立的1或更大的整数。SFO估算器基于该波形特征变化量来估算该采样数据信号的SFO。 | ||
| 申请公布号 | CN101414827A | 申请公布日期 | 2009.04.22 |
| 申请号 | CN200810175674.X | 申请日期 | 2008.07.16 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 刘光辉 |
| 分类号 | H03M1/12(2006.01)I | 主分类号 | H03M1/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽 |
| 主权项 | 1、一种用于估算采样频偏的装置，所述装置包括：波形特征提取单元，提取在采样数据信号的一个帧周期中的训练序列周期的波形特征，并输出相应于所述训练序列周期的波形特征的波形特征值；变化量计算单元，基于第m帧的波形特征值和第(m-k)帧的波形特征值计算波形特征变化量，其表示在第m帧和第(m-k)帧之间的波形特征中的变化量，其中m和k为相互独立的、1或更大的整数；和SFO(采样频偏)估算器，基于所述波形特征变化量估算所述采样数据信号的SFO。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||