采集开关设备中触点烧损的装置

摘要

本发明涉及一种用于采集电开关设备(S)的开关触点(K1，K1’)上的触点烧损的装置，其中触点烧损在开关设备(S)的至少一对断开和闭合的开关触点(K1，K1’)上引起。该装置包括光波导体(LWL)和检测器(D)，其中由至少一个光源(Q)发出的光耦合到该光波导体(LWL)中，并由该光波导体(LWL)传输至检测器(D)。在此光波导体(LWL)关于至少一对开关触点(K1，K1’)这样设置，使得由检测器(D)测量的耦合到光波导体(LWL)中的光的强度随着由触点烧损产生的电开关设备(S)中的触点烧损微粒的数量增加而减小。

主权项

1.一种用于采集电开关设备(S)的开关触点(K1，K1’)上的触点烧损的装置，其中触点烧损在电开关设备(S)的至少一对开关触点对(K1，K1’)上由于断开和闭合而引起，该装置包括至少一个光波导体(LWL)和至少一个检测器(D)，其中由至少一个光源(Q)发出的光耦合到该至少一个光波导体(LWL)中，并由该光波导体(LWL)传递至该至少一个检测器(D)，其特征在于，所述至少一个光波导体(LWL)关于至少一对开关触点(K1，K1’)这样设置，使得由至少一个检测器(D)测量的耦合到该光波导体(LWL)中的光的强度随着由触点烧损产生的电开关设备(S)中的触点烧损微粒的数量增加而减小。