发明名称 | 测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法及系统 | ||
摘要 | 本发明公开一种测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法,其包括:输入交流图样讯号至待测之DAC/ADC路径;计算所述DAC/ADC路径之输出讯号的讯号噪声比;以及判断所述讯号噪声比是否符合规格。本发明还相应公开了一种测试DAC/ADC之讯号噪声比的系统。上述测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法及系统,由于量测讯号的提供以及对量测结果的分析,均由系统本身完成,因此,实施起来较为方便。 | ||
申请公布号 | TW200914847 | 申请公布日期 | 2009.04.01 |
申请号 | TW096136030 | 申请日期 | 2007.09.27 |
申请人 | 义隆电子股份有限公司 | 发明人 | 蔡欣学;魏诚文;方智仁;李正一 |
分类号 | G01R29/26(2006.01) | 主分类号 | G01R29/26(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 杨大德 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区创新一路12号 |