发明名称 测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法及系统
摘要 本发明公开一种测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法,其包括:输入交流图样讯号至待测之DAC/ADC路径;计算所述DAC/ADC路径之输出讯号的讯号噪声比;以及判断所述讯号噪声比是否符合规格。本发明还相应公开了一种测试DAC/ADC之讯号噪声比的系统。上述测试DAC/ADC之讯号噪声比的方法及系统,由于量测讯号的提供以及对量测结果的分析,均由系统本身完成,因此,实施起来较为方便。
申请公布号 TW200914847 申请公布日期 2009.04.01
申请号 TW096136030 申请日期 2007.09.27
申请人 义隆电子股份有限公司 发明人 蔡欣学;魏诚文;方智仁;李正一
分类号 G01R29/26(2006.01) 主分类号 G01R29/26(2006.01)
代理机构 代理人 杨大德
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区创新一路12号