| 发明名称 | 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，按如下步骤进行：使光学头处于聚焦状态；调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3个等距的聚焦点；在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整值，计算每个聚焦点的斜率值；计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。可在1～2秒钟内完成线性度的自动测量，具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN101393752A | 申请公布日期 | 2009.03.25 |
| 申请号 | CN200810228655.9 | 申请日期 | 2008.11.10 |
| 申请人 | 中国华录·松下电子信息有限公司 | 发明人 | 余永立;郭文健 |
| 分类号 | G11B7/09(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/09(2006.01)I |
| 代理机构 | 大连非凡专利事务所 | 代理人 | 闪红霞 |
| 主权项 | 1. 一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，其特征在于按如下步骤进行：a. 使光学头处于聚焦状态；b. 调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3个等距的聚焦点；c. 在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整值，计算每个聚焦点的斜率值；d. 计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。 | ||
| 地址 | 116000辽宁省大连市高新技术园区华路1号(中国华录·松下电子信息有限公司) | ||