发明名称 托盘收纳装置与电子元件测试装置
摘要 电子元件测试装置之托盘储存部(100)包括:1个存取口(110),系用以将收容IC元件之订制托盘(KST)搬出、搬入;储存器群(164),系由储存订制托盘之36个储存器(161)所构成;以及搬出入单元(120)与第1托盘移送臂(130),系用以在存取口(110)和储存器群(164)之间交换订制托盘(KST)。
申请公布号 TW200911653 申请公布日期 2009.03.16
申请号 TW097113467 申请日期 2008.04.14
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 发明人 池田浩树;小暮吉成;山下毅;高桥弘行
分类号 B65G1/00(2006.01);B65G49/07(2006.01);G01R1/02(2006.01) 主分类号 B65G1/00(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本