发明名称 sistema e processo de testes de dispositivos eletrânicos
摘要 SISTEMA E PROCESSO DE TESTES DE DISPOSITIVOS ELETRâNICOS. A presente invenção refere-se a um sistema e processo de testes de dispositivos eletrônicos (1), particularmente para ser utilizado em testes de módulos de tela de cristal líquido (10) de celulares, onde dito sistema (1) é modi.ilar e compreende um módulo fonte (2) de alimentação, um módulo mecânico (4) para acomodação de um dispositivo de teste (10), um módulo de interface homem-máquina (5) de entrada de dados e acionamento do sistema (1), e um módulo de instrumentação e controle (3) responsável pela conexão entre todos os módulos (2, 3, 4, 5).
申请公布号 BRPI0703065(A2) 申请公布日期 2009.03.10
申请号 BR2007PI03065 申请日期 2007.07.26
申请人 FUNDACAO UNIVERSIDADE DO AMAZONAS 发明人 CICERO FERREIRA FERNANDES COSTA JR;HILLERMANN FERREIRA OSMIDIO LIMA;ORLENS DA SILVA MELO;WILLIAM SILVA DE MORAES;BRAZ DA COSTA ANDRADE JR;FABIAN CARVALHO DIAS;MARCIO DAVID COLLYER DA SILVEIRA;ELIAS CARDOSO LITAIFF JR;ANDRE LUIZ DUARTE CAVALCANTE;FRANKLIN SILVA DE SOUZA
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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