发明名称 CHARGED PARTICLE BEAM INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR FABRICATING DEVICE USING THAT INSPECTION APPARATUS
摘要
申请公布号 KR100885940(B1) 申请公布日期 2009.02.26
申请号 KR20027014575 申请日期 2001.06.27
申请人 发明人
分类号 H01J37/29;G01N23/225;H01J37/06;H01J37/073;H01J37/18;H01J37/20;H01J37/22;H01J37/244;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/29 主分类号 H01J37/29
代理机构 代理人
主权项
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