| 发明名称 | 芯片测试系统和芯片测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试系统，包括：主机和信号仿真单元，其中，所述主机，向信号仿真单元输出测试信号；接收信号仿真单元输出的响应信号；将响应信号与预先设置的参考信号进行比较，得到测试结果；所述信号仿真单元，根据预先设定的映射关系，将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片；接收来自外部测试芯片的响应信号，并输出给所述主机。本发明还公开了一种芯片测试方法。本发明根据预先设定的映射关系，将测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的信号，模拟目标测试主机与待测芯片进行信息交互，在实现了芯片测试的同时，提高了芯片测试系统的通用性和测试效率。 | ||
| 申请公布号 | CN100464193C | 申请公布日期 | 2009.02.25 |
| 申请号 | CN200610139145.5 | 申请日期 | 2006.10.13 |
| 申请人 | 北京中星微电子有限公司 | 发明人 | 黄鑫;游明琦 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/317(2006.01);G01R31/3185(2006.01);G06F11/267(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王一斌;王琦 |
| 主权项 | 1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：主机和信号仿真单元，其中，所述主机，向信号仿真单元输出测试信号；接收信号仿真单元输出的响应信号；将接收到的响应信号与预先设置的参考信号进行比较，得到测试结果；所述信号仿真单元，根据预先设定的映射关系，将主机输出的测试信号转换为基于目标测试主机接口标准的测试信号，并输出给外部测试芯片；接收来自外部测试芯片的响应信号，并输出给所述主机；其中，所述映射关系为：目标测试主机与所述主机对信号延时要求的映射关系，和/或目标测试主机的信号定义与所述主机的信号定义的映射关系。 | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 | ||