发明名称 介电层结构及其制作方法
摘要 一种介电层结构之制作方法,该方法首先提供一基底,随后于该基底表面形成至少一低介电常数材料层,并于该低介电常数材料层表面形成一张应力单层,接下来系对该张应力单层进行一防水处理。张应力单层系用以提供一相对于介电层之应力;同时利用其斥水性的特性避免水气之吸附。
申请公布号 TW200908146 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW096129027 申请日期 2007.08.07
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 林经祥
分类号 H01L21/31(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号