发明名称 | 介电层结构及其制作方法 | ||
摘要 | 一种介电层结构之制作方法,该方法首先提供一基底,随后于该基底表面形成至少一低介电常数材料层,并于该低介电常数材料层表面形成一张应力单层,接下来系对该张应力单层进行一防水处理。张应力单层系用以提供一相对于介电层之应力;同时利用其斥水性的特性避免水气之吸附。 | ||
申请公布号 | TW200908146 | 申请公布日期 | 2009.02.16 |
申请号 | TW096129027 | 申请日期 | 2007.08.07 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 林经祥 |
分类号 | H01L21/31(2006.01) | 主分类号 | H01L21/31(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |