发明名称 半导体装置
摘要 本发明提供一种半导体装置,是由使用以pMOS的闸极宽为nMOS的闸极宽的两倍之SGT的高积集、高速的至少两段以上的CMOS反相器结合电路构成。与本发明有关的半导体装置是由结合两段以上的CMOS反相器之CMOS反相器结合电路构成,第一CMOS反相器是由第一列第一行与第二列第一行的pMOS SGT与第一列第二行的nMOS SGT构成,第二CMOS反相器是由第一列第三行与第二列第三行的pMOS SGT与第二列第二行的nMOS SGT构成,连接如下的构件:藉由岛状半导体下部层连接第一列第一行与第二列第一行的SGT的汲极扩散层与第一列第二行的SGT的汲极扩散层而配线之输出端子;以及连接第一列第三行与第二列第三行的SGT的闸极与第二列第二行的SGT的闸极而配线之输入端子。
申请公布号 TW200908292 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW097120153 申请日期 2008.05.30
申请人 日本优尼山帝斯电子股份有限公司 发明人 舛冈富士雄;中村广记
分类号 H01L27/092(2006.01);H03K19/0948(2006.01) 主分类号 H01L27/092(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本