发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明之半导体装置之制造方法,包括:形成SiC膜之步骤;于SiC膜之表面形成沟槽(20)之步骤;于向SiC膜之表面供给Si之状态下,对SiC膜进行热处理之热处理步骤;及将藉由热处理步骤于SiC膜之表面所得之复数之巨阶部(1)作为通道之步骤。若将沟槽(20)之周期设为L、将沟槽(20)之高度设为h,则周期L与高度h之间成立以下关系,L=h(cotα+cotβ)(其中,α、β系满足0.5≦α、β≦45的变数)。由此,能够提高半导体装置之特性。
申请公布号 TW200908315 申请公布日期 2009.02.16
申请号 TW097112032 申请日期 2008.04.02
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 增田健良
分类号 H01L29/12(2006.01);H01L21/20(2006.01) 主分类号 H01L29/12(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本