发明名称 | 减少气相成核缺陷的高密度电浆沟填方法 | ||
摘要 | 一种减少气相成核缺陷的高密度电浆沟填方法,包括下列步骤。首先,提供基底于反应室中,且此基底中具有沟渠。然后,进行第一沈积步骤,于沟渠中部分地填入介电材料。接着,进行蚀刻步骤,部分地移除沟渠中的介电材料。之后,进行第二沈积步骤,于沟渠中部分地填入介电材料,其中在第二沈积步骤中所使用的反应气体包括载气、含氧气体、含矽气体与含氢气体,且在载入载气与含氧气体至反应室中并开启射频电源一段时间后,再载入含矽气体与含氢气体至反应室中。 | ||
申请公布号 | TW200908215 | 申请公布日期 | 2009.02.16 |
申请号 | TW096128823 | 申请日期 | 2007.08.06 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 苏世芳 |
分类号 | H01L21/762(2006.01) | 主分类号 | H01L21/762(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |