| 发明名称 | 自动分析装置 | ||
| 摘要 | 本发明的目的在于提供检测每个反应容器的空白值、且能够谋求缩短分析所消耗的时间的自动分析装置。本发明是自动分析装置具备：容纳试样及试剂的反应容器、清洗上述反应容器的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于，具有将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较的比较功能。 | ||
| 申请公布号 | CN101358986A | 申请公布日期 | 2009.02.04 |
| 申请号 | CN200810128083.7 | 申请日期 | 2008.07.29 |
| 申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 相马邦彦;三村智宪 |
| 分类号 | G01N35/02(2006.01);G01N21/27(2006.01) | 主分类号 | G01N35/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张敬强 |
| 主权项 | 1.一种自动分析装置，具备：容纳试样及试剂的反应容器、进行上述反应容器的清洗的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于，具有比较功能，该比较功能将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||