发明名称 TEG pattern and Method for testing Semiconductor device using the same
摘要
申请公布号 KR100881848(B1) 申请公布日期 2009.02.03
申请号 KR20060135770 申请日期 2006.12.27
申请人 发明人
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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