发明名称 |
Verfahren zum Blockieren einer Voramorphisierung einer Gateelektrode eines Transistors |
摘要 |
Es wird eine Technik vorgestellt, die für eine selektive Voramorphisierung von Source/Drain-Gebieten eines Transistors sorgt, während die Voramorphisierung einer Gateelektrode des Transistors verhindert wird. Anschauliche Ausführungsformen beinhalten die Herstellung eines Voramorphisierungsimplantationsblockiermaterials über der Gateelektrode. Ferner umfassen anschauliche Ausführungsformen das Hervorrufen einer Verformung in einem Kanalgebiet durch die Verwendung diverser Verspannungsquellen.
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申请公布号 |
DE102007030056(B3) |
申请公布日期 |
2009.01.22 |
申请号 |
DE200710030056 |
申请日期 |
2007.06.29 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC. |
发明人 |
MOWRY, ANTHONY;LENSKI, MARKUS;WEI, ANDY;BOSCHKE, ROMAN |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8238;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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