发明名称 |
Vorrichtung und Verfahren zur Verbesserung der Messgenauigkeit in einem optischen CD-Messsystem |
摘要 |
Es ist ein Verfahren und eine Vorrichtung offenbart, womit eine Verbesserung der Messgnauigkeit bei der Bestimmung von Strukturdaten ermöglicht ist. Es ist eine Vorrichtung mit einem in X-Koordinatenrichtung und Y-Koordinatenrichtung verfahrbaren Auflagetisch (4) vorgesehen, auf dem ein zusätzlicher Halter (6) zur Halterung eines Substrats (2) getragen ist, mit mindestens einer Lichtquelle (16; 20), mindestens einem Objektiv (8) und einer ersten Detektoreinheit (15a), die das von auf dem Substrat (2) aufgebrachten Strukturen reflektierte oder transmittierte Licht empfängt. Weiterhin ist eine der Lichtquelle (16; 20) zugeordnet und/oder in einem Abbildungsstrahlengang (10; 12) befindliche Polarisationseinrichtung (30a; 30b) vorgesehen.
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申请公布号 |
DE102007032626(A1) |
申请公布日期 |
2009.01.22 |
申请号 |
DE200710032626 |
申请日期 |
2007.07.11 |
申请人 |
VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH |
发明人 |
HEIDEN, MICHAEL;STEINBERG, WALTER |
分类号 |
G01B11/03;G01B11/14;G01B11/24 |
主分类号 |
G01B11/03 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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