发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Verbesserung der Messgenauigkeit in einem optischen CD-Messsystem
摘要 Es ist ein Verfahren und eine Vorrichtung offenbart, womit eine Verbesserung der Messgnauigkeit bei der Bestimmung von Strukturdaten ermöglicht ist. Es ist eine Vorrichtung mit einem in X-Koordinatenrichtung und Y-Koordinatenrichtung verfahrbaren Auflagetisch (4) vorgesehen, auf dem ein zusätzlicher Halter (6) zur Halterung eines Substrats (2) getragen ist, mit mindestens einer Lichtquelle (16; 20), mindestens einem Objektiv (8) und einer ersten Detektoreinheit (15a), die das von auf dem Substrat (2) aufgebrachten Strukturen reflektierte oder transmittierte Licht empfängt. Weiterhin ist eine der Lichtquelle (16; 20) zugeordnet und/oder in einem Abbildungsstrahlengang (10; 12) befindliche Polarisationseinrichtung (30a; 30b) vorgesehen.
申请公布号 DE102007032626(A1) 申请公布日期 2009.01.22
申请号 DE200710032626 申请日期 2007.07.11
申请人 VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH 发明人 HEIDEN, MICHAEL;STEINBERG, WALTER
分类号 G01B11/03;G01B11/14;G01B11/24 主分类号 G01B11/03
代理机构 代理人
主权项
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