电路测试装置

摘要

本实用新型提供一种电路测试装置，用来测试一待测试元件，其中待测试元件包括一第一输出端以及一第二输出端，该第一输出端以及该第二输出端用以分别产生一第一输出信号以及一第二输出信号。电路测试装置用以根据该第一输出信号以及该第二输出信号，决定待测试元件的测试结果。本实用新型所述的电路测试装置，可以有效提升晶片测试的速度，进一步提升测试效率。

主权项

1.一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件，其中该待测试元件包括一第一输出端以及一第二输出端，该第一输出端以及该第二输出端用以分别产生一第一输出信号以及一第二输出信号，该电路测试装置用以根据该第一输出信号以及该第二输出信号，决定该待测试元件的测试结果，该电路测试装置包括：一量测模块，耦接于该待测试元件，用以提供一测试信号，并接收根据该测试信号所产生的一信号运算结果；一处理模块，耦接于该待测试元件的该第一输出端以及该第二输出端，用以处理该待测试元件根据该测试信号所产生的该第一输出信号以及该第二输出信号，产生一第一处理信号以及一第二处理信号；一运算模块，耦接于该处理模块，用以接收该第一处理信号以及该第二处理信号，并对该第一处理信号以及该第二处理信号进行运算，以产生一信号运算结果；以及一微处理器，耦接于该量测模块，用以根据该信号运算结果来决定该待测试元件的测试结果。