不平衡盘片检测方法

摘要

本发明是一种不平衡盘片检测方法，应用于一光学读取装置对一待读取光盘片的处理过程，该不平衡盘片检测方法包含下列步骤：对该待读取光盘片以一第一预设转速进行一第一检测过程，该第一检测过程包含判断该待读取光盘片是否为一不平衡盘片；当该第一检测过程中未能判断该待读取光盘片是否为一不平衡盘片时，对该待读取光盘片以一第二预设转速进行一第二检测过程，该第二检测过程包含判断该待读取光盘片是否为一不平衡盘片；以及在该第一检测过程与该第二检测过程中，当该待读取光盘片被判断为一正常片时，结束检测并以一第一读取模式进行读取，当该待读取光盘片被判断为一不平衡盘片时，结束检测并以一第二读取模式进行读取。

主权项

1.一种不平衡盘片检测方法，应用于一光学读取装置对一待读取光盘片的处理过程，其特征在于，该不平衡盘片检测方法包含下列步骤：对该待读取光盘片以一第一预设转速进行一第一检测过程，该第一检测过程包含下列步骤：执行一开回路控制的检测状态；以及以该第一预设转速检测该待读取光盘片的一循轨误差信号的跨轨数，并和一第一门坎值以及一第二门坎值作比较，该第二门坎值小于该第一门坎值，当该跨轨数大于该第一门坎值时，表示该光盘片为一不平衡盘片，当该跨轨数小于该第二门坎值，表示该光盘片为一正常片；当该跨轨数介于该第一门坎值及该第二门坎值之间时，以一第二预设转速进行一第二检测过程，该第二预设转速小于该第一预设转速，该第二检测过程包含下列步骤：执行一开回路控制的检测状态；以及以该第二预设转速检测该待读取光盘片的一循轨误差信号的跨轨数，并和一第三门坎值作比较，该第三门坎值小于该第二门坎值，当该跨轨数大于该第三门坎值时便判断该待读取光盘片为一不平衡盘片，当该跨轨数小于该第三门坎值时便判断该待读取光盘片为一正常片；其中该第一检测过程与该第二检测过程中，当该待读取光盘片被判断为一正常光盘片时，结束检测并以一第一读取模式进行读取，当该待读取光盘片被判断为一不平衡盘片时，结束检测并以一第二读取模式进行读取，且该第二读取模式的最高读取速度小于该第一读取模式的最高读取速度。