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发明名称 Test Circuit for Supporting a Multiplex Test Mode
摘要
申请公布号 KR100878301(B1) 申请公布日期 2009.01.13
申请号 KR20070045407 申请日期 2007.05.10
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C7/20;G11C7/22 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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