发明名称 |
非易失性存储装置及其操作方法 |
摘要 |
本发明提供了一种非易失性存储装置及其操作方法。该非易失性存储装置包括以NAND串设置在半导体基底上的存储晶体管。串选择晶体管设置在NAND串的第一端,接地选择晶体管设置在NAND串的第二端。位线在串选择晶体管的外部电连接到半导体基底,并连接到接地选择晶体管的栅电极。 |
申请公布号 |
CN101290799A |
申请公布日期 |
2008.10.22 |
申请号 |
CN200810092453.6 |
申请日期 |
2008.04.11 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
金元柱;朴允童;李承勋;金锡必;玄在雄;成政宪;李太熙 |
分类号 |
G11C16/02(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L23/522(2006.01);G11C16/26(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/02(2006.01) |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郭鸿禧;刘奕晴 |
主权项 |
1、一种非易失性存储装置,所述非易失性存储装置包括至少一个NAND串结构,所述至少一个NAND串结构包括:NAND串,具有布置在半导体基底上的多个存储晶体管;串选择晶体管,设置在半导体基底上,位于所述NAND串的第一端;接地选择晶体管,设置在半导体基底上,位于所述NAND串的第二端;位线,电连接到半导体基底和接地选择晶体管的栅电极。 |
地址 |
韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416 |