| 发明名称 | 一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法，包括如下步骤：1)确定输入条件；2)建立颗粒流体两相的动量和质量守恒方程；3)根据网格内的颗粒位置得到颗粒的局部空隙率和局部空隙率梯度；4)根据颗粒的局部信息将网格内的非均匀结构分解为局部均匀结构的组合，对流体流速进行分配；5)将分配后的流体流速代入动量和质量守恒方程中，得到计算结果。本发明解决了颗粒流体相间耦合的问题，克服了经验关联式的固有局限性。 | ||
| 申请公布号 | CN101201311A | 申请公布日期 | 2008.06.18 |
| 申请号 | CN200610165060.4 | 申请日期 | 2006.12.12 |
| 申请人 | 中国科学院过程工程研究所 | 发明人 | 许明;葛蔚;李静海 |
| 分类号 | G01N15/00(2006.01);G06F19/00(2006.01);G01M10/00(2006.01) | 主分类号 | G01N15/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 高存秀 |
| 主权项 | 1.一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法，包括如下步骤：1)确定输入条件；2)建立颗粒流体两相的动量和质量守恒方程；3)根据网格内的颗粒位置得到颗粒的局部空隙率和局部空隙率梯度；4)根据颗粒的局部信息将网格内的非均匀结构分解为局部均匀结构的组合，对流体流速进行分配；5)将分配后的流体流速代入所述动量和质量守恒方程中，得到计算结果。 | ||
| 地址 | 100080北京市海淀区中关村北二条1号 | ||