| 发明名称 | 光学器件的检测装置及检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及光学器件的检测装置及检测方法。依据本发明所提供的光学器件的检测装置，包含：用于向所述光学器件射出光的激光器；通过对所述激光器射出光的相位进行变更而消除干扰的相位变更部；用于将通过所述光学器件的光按特定方向偏振的偏振部；用于集中所偏振光的集光部；用于将所集中的光变换为电信号的光二极管；用于处理所述电信号的信号处理部。据此提供可以测定板状光学器件的双折射和厚度变形程度的光学器件的检测装置及检测方法。 | ||
| 申请公布号 | CN100443959C | 申请公布日期 | 2008.12.17 |
| 申请号 | CN200610007307.X | 申请日期 | 2006.02.07 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 普特波夫·维拉帝莫;赵成训;李锡原;李文九;金洸秀 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01);G01N21/23(2006.01);G01N21/00(2006.01) | 主分类号 | G02F1/13(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;李云霞 |
| 主权项 | 1、一种用于检测光学器件的光学器件检测装置，其特征在于包含：用于向所述光学器件射出光的激光器；通过对所述激光器射出光的相位进行变更而消除干扰的相位变更部；用于将通过所述光学器件的光按特定方向偏振的偏振部；用于集中所偏振光的集光部；用于将所集中的光变换为电信号的光二极管；用于处理所述电信号的信号处理部。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||