发明名称 | 一种阴影检测方法及装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种阴影检测方法及装置,本发明方案综合考虑了阴影的纹理特性和颜色特性,并利用他们的联合概率分布来对阴影进行检测,减少了噪声以及其他因素对阴影检测的干扰,从而提高了阴影检测的正确性,保证阴影检测的稳定性。 | ||
申请公布号 | CN101324927A | 申请公布日期 | 2008.12.17 |
申请号 | CN200810116871.4 | 申请日期 | 2008.07.18 |
申请人 | 北京中星微电子有限公司 | 发明人 | 谌安军 |
分类号 | G06K9/62(2006.01);G06T7/20(2006.01) | 主分类号 | G06K9/62(2006.01) |
代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王琦;王诚华 |
主权项 | 1.一种阴影检测方法,其特征在于,该方法包括:A.对图像进行目标检测获得背景点和前景点,并利用检测出的背景点对已建立的背景模型进行更新;B.计算背景点与前景点的颜色概率分布,以及图像中目标像素点的纹理概率分布的联合概率密度;在得到的联合概率密度小于预设阈值时,判定目标像素点为阴影点。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |